本文的研究作者包括 Boce Lin、Hua Wang(美国佐治亚理工学院和瑞士ETH)、Hamdi Mani(CryoElec LLC)、Phil Marsh(Carbonics Inc)和Richard Al Hadi(Alcatera Inc)。该研究发表于2022年IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC),是一篇关于低噪声放大器(Low Noise Amplifier, LNA)设计的原创研究论文。
研究背景集中于量子计算和传感领域的前沿发展,特别是在大规模量子比特(qubits)读出系统中的应用需求。由于CMOS(互补金属氧化物半导体)技术具有低成本和大规模集成优势,并且可能与半导体量子比特制造兼容,因此在超低温(cryogenic)环境中应用CMOS技术设计LNA成为研究热点。本研究针对当前LNA设计中带宽窄、噪声匹配范围有限、热预算及芯片面积受限等问题,提出了一种宽带、超紧凑的LNA设计,旨在同时实现噪声和功率匹配,为未来大规模量子计算应用提供解决方案。
本文设计并实现了一种工作在4.2-9.2GHz频段的低噪声放大器,能够在超低温环境下实现4.5K的最低噪声温度,对应于300K基准下的0.065dB噪声系数(Noise Figure, NF)。研究的主要目标是:
该LNA采用三级架构: - 第一级:使用带漏源耦合变压器的共栅-共源级(cascode amplifier)实现噪声和功率匹配; - 第二级:采用电流复用(current-reuse)宽带放大器; - 第三级:设计为带电感负载的共源-共栅级放大器,以提升高频带宽边界性能并增强反向隔离。
通过三级架构,该设计在保持增益的同时扩大了带宽。
为实现宽频段内的SNPM: - 基于22nm FD-SOI CMOS工艺的器件参数,使用递归优化方法模拟并优化了最佳噪声阻抗。 - 设计输入阻抗匹配网络,通过耦合变压器提供双共振结构,减少输入匹配网络损耗并提升NF性能。
在超低温条件下,器件的阈值电压会显著变化,可能影响放大器的偏置电压及匹配条件。为解决这一问题,采用了FD-SOI技术,通过背栅偏压动态调整晶体管的阈值电压,保证在不同温度下的性能一致性。
研究在室温(300K)及超低温(16K)条件下分别进行了测试: - 室温下,使用探针台和定制封装进行S参数、线性度及噪声系数的测量; - 超低温下,使用定制低损耗PCB进行测量,噪声温度通过Y因子法测试。
与现有技术相比(见表2),该设计的亮点包括: - 同类设计中最低的噪声温度; - 在宽带范围内首次实现同时噪声与功率匹配; - 芯片面积仅0.23 mm²(核心面积)。
本研究开发了一种在超低温环境下运行的宽带LNA,填补了宽带同时噪声与功率匹配领域的技术空白。研究不仅验证了22nm FD-SOI CMOS工艺在量子应用中的潜力,还为大规模量子比特读出系统的集成设计提供了实践参考。
该研究为未来量子计算和传感领域的工程开发提供了重要支持,特别是在提升读出信号保真度和减少系统噪声方面具有重要意义。此外,研究还通过创新设计解决了热预算和芯片面积限制问题,具有显著的工程价值和科学意义。
未来可以进一步优化器件设计,并扩展至更低温度和更高频段的应用环境。