測地距離場に基づく五軸連続スキャン手法による多入口内壁表面検査 背景紹介 工業応用において、多入口内壁（MEI, Multi-Entrance Inwall）表面は、その複雑なトポロジー構造と潜在的な衝突リスクにより、正確な検査が常に課題となっています。従来の点検方法では効率が低い一方で、近年開発された五軸連続スキャン技術は、検査効率を大幅に向上させ、大面積かつ複雑な表面の検査に新たな可能性を提供しています。しかし、現在の五軸連続スキャンのパス計画は依然として人手に大きく依存しており、特にMEI表面の場合、複雑な衝突シナリオと多入口構造により、自動化されたパス生成が特に困難です。そこで、本研究では測地距離場（GDF, Geodesic Distance Field）に基づく新しい手法を提案し...