確率的構造化照明顕微鏡（S2IM）：スキャンレス超解像イメージング技術の研究報告 学術的背景 超解像顕微鏡の分野において、従来の構造化照明顕微鏡（Structured Illumination Microscopy, SIM）技術は、高解像度イメージングを実現するために精密な機械制御とマイクロメートルレベルの光学アライメントを必要とします。しかし、この技術は複雑なハードウェアと高精度の操作を要求し、眼科検査や天文観測、活性物質研究など、長い作動距離や非侵襲的イメージングが必要な環境での使用が制限されていました。これらの問題を解決するため、イタリア工科大学（Italian Institute of Technology）の研究チームは、新しい超解像イメージング手法である確率的構造化照明顕微鏡（...