随机结构照明显微镜:无扫描超分辨率成像
随机结构照明显微镜(S2IM):无扫描超分辨率成像技术的研究报告 学术背景 在超分辨率显微镜领域,传统的结构照明显微镜(Structured Illumination Microscopy, SIM)技术依赖于精确的机械控制和微米级的光学对准,以实现高分辨率成像。然而,这种技术要求复杂的硬件设备和高精度的操作,限制了其在某些应用场景中的使用,尤其是在需要长工作距离或非侵入性成像的环境中,如眼科检查、天文观测或活性物质研究。为了解决这些问题,意大利理工学院(Italian Institute of Technology)的研究团队提出了一种新的超分辨率成像方法——随机结构照明显微镜(Stochastically Structured Illumination Microscopy, S2IM)...